MICROSCOPIA ELECTRÓNICA DE TRANSMISIÓN
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FUNDAMENTOS DE LA TÉCNICA

En el microscopio electrónico de transmisión (MET o TEM) se irradia una muestra delgada con un haz de electrones de densidad de corriente uniforme, cuya energía está dentro del rango de 100 a 200 keV. Parte de esos electrones son transmitidos, otra parte son dispersados y otra parte da lugar a interacciones que producen distintos fenómenos como emisión de luz, electrones secundarios y Auger, rayos X, etc. Todas estas señales se pueden emplear para obtener información sobre la naturaleza de la muestra (morfología, composición, estructura cristalina, estructura electrónica, etc.). El microscopio electrónico de transmisión emplea la transmisión/dispersión de los electrones para formar imágenes, la difracción de los electrones para obtener información acerca de la estructura cristalina y la emisión de rayos X característicos para conocer la composición elemental de la muestra.

Para que se produzca la transmisión de electrones a través de la muestra es necesario que ésta sea delgada, es decir, transparente a los electrones. Es recomendable no utilizar muestras de más de 100 nm de grosor ya que cuanto menor sea el espesor de la muestra mejor calidad de imágenes se puede obtener.

Formación de la imagen:

Los electrones muestran características tanto de onda como de partícula. Cuando se atiende a su comportamiento ondulatorio se pueden observar variaciones tanto en la amplitud como en la fase de la onda al atravesar la muestra y ambos tipos de variación dan lugar al contraste en la imagen. (Se define el contraste como diferencias en intensidad entre dos zonas adyacentes). Así, en TEM se hace una distinción fundamental entre contraste de amplitud y contraste de fase. En la mayoría de situaciones ambos tipos contribuyen a la formación de la imagen pero uno de ellos tiende a dominar.

En las imágenes de contraste de amplitud se obtienen imágenes de campo claro o campo oscuro seleccionando mediante diafragmas o aperturas, el haz directo o los haces dispersados, respectivamente. Dentro del contraste de amplitud existen dos tipos principales: contraste debido al grosor o masa de la muestra y el contraste debido a la difracción de los electrones. En el primer caso el contraste se produce debido a la dispersión incoherente y elástica de los electrones al atravesar la muestra y depende fuertemente del número atómico y del grosor de la misma. Este contraste es el más importante en el caso de muestras no cristalinas, como polímeros, y es el contraste crítico de las muestras biológicas. El contraste de difracción se produce debido a la dispersión coherente y elástica de los electrones al atravesar la muestra y está controlado por la estructura cristalina y la orientación de la misma. Se da cuando la dispersión de los electrones se produce a un ángulo (de Bragg) determinado y por tanto sólo aparece en muestras cristalinas.

Las imágenes de contraste de fase se forman seleccionando más de un haz de electrones y generalmente se asocia con la microscopía electrónica de alta resolución (HRTEM) aunque a bajos aumentos también se produce este tipo de contraste. Este contraste se utilizan ampliamente de tres formas: a) imágenes que se relacionan directamente con la estructura periódica de una muestra cristalina; b) imágenes de franjas de Moiré; c) imágenes de contraste de Fresnel.

Formación del patrón de difracción de electrones:

Como se ha señalado anteriormente los electrones, en su comportamiento ondulatorio, pueden ser difractados al atravesar una muestra cristalina dando lugar a un patrón de difracción que contiene información acerca de la estructura cristalina de ésta. Se pueden obtener dos tipos de patrones de difracción:

Patrones de difracción de un área seleccionada (patrones SAD) y patrones de difracción de haz convergente (patrones CBED). Los patrones SAD son diagramas de puntos muy nítidos que se forman usando un haz de electrones prácticamente paralelo y colocando una apertura en el plano de la imagen para seleccionar un área determinada. Los patrones CBED son un conjunto de discos que se forman enfocando el haz en un área pequeña de la muestra. Dependiendo de las características de ésta y atendiendo al tamaño de grano se utilizará SAD o CBED (siempre teniendo en cuenta que si el tamaño de grano es muy pequeño, menor de 10 nm, no se puede analizar un grano individual).

El indexado posterior de los patrones de difracción asocia cada punto con un plano cristalino (hkl) y a partir de ahí se puede deducir la orientación del cristal en términos de los ejes de zona [UVW] a los cuales pertenecen los planos indexados.

Espectrometría de dispersión de energía de rayos X:

Los electrones considerados como partículas son un tipo de radiación ionizante, es decir, son capaces de quitar electrones de las capas más internas de los átomos con los que interaccionan lo que produce la ionización de éstos. En este estado un electrón de una capa más externa salta inmediatamente a la capa deficitaria, y rellena el hueco producido. Este salto implica una liberación de energía, cuyo valor es igual a la diferencia entre las energías que tenía cada electrón en su orbital correspondiente. Esta energía se manifiesta de dos formas: electrones Auger o rayos X y es única para cada elemento. Cuando se representa la intensidad de esta radiación electromagnética frente a su energía se obtiene un espectro de rayos X, constituido por una serie de picos, designados como líneas, de intensidad variable, a los que se denomina rayos X característicos, que está superpuesto a un fondo continuo de menor intensidad (Rayos X continuos). En algunos casos aparecen además unas líneas satélite, asociadas a las líneas características. El microscopio JEOL JEM-2010 está equipado con un detector capaz de distinguir elementos de número atómico comprendido entre los del Be y el U lo que lo convierte en un microscopio analítico.

APLICACIONES

Las aplicaciones de la técnica son muy numerosas tanto en Ciencia de Materiales, como en Ciencia Biomédica:

  • Determinación de la morfología: forma dimensiones y posición de microcristales o partículas observadas en la muestra.
  • Determinación de la cristalografía: posición de los planos cristalinos, estudio de los defectos, etc.
  • Determinación de la composición: composición química de fases o mezcla de fases.

Difracción de electrones de un cristal de oro

Partículas de platino, a 500.000 aumentos *
Cortesía del Dr. José Solla
Dep. de Química Física


REQUISITOS Y LIMITACIONES

Como se ha señalado anteriormente es fundamental que las muestras que vayan a ser observadas en TEM sean lo más delgadas posible, por debajo de 100 nm de grosor. Además las muestras deben tener 3.05 mm de diámetro o ir soportadas sobre una rejilla de dichas dimensiones. Para garantizar la estabilidad de la muestra durante el análisis, la rejilla sobre la que se soporte la muestra deberá llevar una película de formvar, parlodión o similar y además estar recubierta con carbono. Para el corte de determinadas muestras la unidad dispone de un ultramicrotomo.


DESCRIPCIÓN DEL EQUIPO  

El microscopio electrónico de transmisión disponible en los Servicios Técnicos de Investigación es de la marca JEOL modelo JEM-2010. Puede trabajar en los modos de tensión de aceleración 100, 120, 160, 200 kV. Se obtiene una resolución entre líneas de 0.14 nm y entre puntos de 0.25 nm.

El microscopio lleva acoplado un sistema de microanálisis (EDS) de la marca OXFORD instruments modelo INCA Energy TEM100. EL detector es de Si(Li) con un área de detección de 30 mm2 y una resolución de 142 eV. La ventana es del tipo SATW y el rango de detección es del Be al U.
El microscopio está equipado con una cámara de adquisición de imágenes ORIUS SC600 de la marca GATAN con sensor CCD de 2672 x 2672 pixels que proporciona un aumento respecto a la película fotográfica de 1,3-1,4 X. La cámara está montada en eje con el microscopio en la parte inferior y está integrada dentro del programa de adquisición y tratamiento de imágenes GATAN DigitalMicrograph 1.80.70 para GMS 1.8.0.
Para el corte de determinadas muestras la unidad cuenta con un ultramicrotomo marca RMC, modelo MTXL y una máquina de hacer cuchillas de la misma marca.





EQUIPO COFINANCIADO POR LA UNIÓN EUROPEA A TRAVÉS DEL FONDO EUROPEO DE DESARROLLO REGIONAL


EXPERIENCIA DEL EQUIPO

Se han llevado a cabo análisis de muestras tanto biológicas como de ciencia de materiales. Entre las muestras biológicas cabe destacar el análisis de retinas, ovocitos, vesículas, etc. Entre las muestras de ciencia de materiales se han estudiado catalizadores (Pt, Sn, Zn, Cu, Co, Au, ...) soportados en materiales diversos como alúmina, zeolitas, carbones activados, telas de carbón, además se han estudiado polímeros, adhesivos, zeolitas, monocristales (Pd, Pt), etc.

Sinapsis de retina a 40.000 aumentos *
Cortesía de la Dra. Antonia Angulo.  Dep. Interuniversitario de Optica


Nanocuernos de Carbono, a 250.000 aumentos.*
Cortesía de la Dra. Ana Huidobro
Dep. de Química Inorgánica



Imágenes obtenidas en el Microscopio Electrónico de Transmisión de los Servicios Técnicos de Investigación de la Universidad de Alicante

PERSONAL

Dra. Cristina Almansa Carrascosa

Tel: 96590 9713
Fax: 96590 3643