GENERALIDADES
La
Difracción de Rayos X está basada en las interferencias
ópticas que se producen cuando una radiación
monocromática atraviesa una rendija de espesor comparable a la
longitud de onda de la radiación. Los Rayos X tienen longitudes
de onda de Angstroms, del mismo orden que las distancias
interatómicas de los componentes de las redes cristalinas. Al
ser irradiados sobre la muestra a analizar, los Rayos X se difractan
con ángulos que dependen de las distancias interatómicas.
El método analítico del Polvo al Azar o de Debye-Scherrer
consiste en irradiar con Rayos X sobre una muestra formada por multitud
de cristales colocados al azar en todas las direcciones posibles. Para
ello es aplicable la Ley de Bragg: nλ = 2d . senθ, en la que “d” es la
distancia entre los planos interatómicos que producen la
difracción.
APLICACIONES
La
difracción de rayos-x es un método de alta
tecnología no destructivo para el análisis de una amplia
gama de materiales, incluso fluidos, metales, minerales,
polímeros, catalizadores, plásticos, productos
farmacéuticos, recubrimientos de capa fina, cerámicas y
semiconductores. La aplicación fundamental de la
Difracción de Rayos X es la identificación cualitativa de
la composición mineralógica de una muestra cristalina.
Otras aplicaciones son el
análisis cuantitativo de compuestos cristalinos, la
determinación de tamaños de cristales, la
determinación del coeficiente de dilatación
térmica, así como cálculos sobre la
simetría del cristal y en especial la asignación de
distancias a determinadas familias de planos y la obtención de
los parámetros de la red.
REQUISITOS
Y LIMITACIONES
Para un óptimo
resultado, la muestra deberá ser una parte representativa
y homogénea del conjunto total a analizar.
Las muestras se presentarán molidas, en una cantidad
equivalente al contenido de una cucharilla de café, con 15
micras de tamaño medio de partícula.
Las muestras sólidas, no deberán superar los 5cm. de
lado, siendo la forma ideal un cuadrado de 5x5 y el espesor inferior a
1’5cm.
DESCRIPCIÓN
DEL EQUIPO
Los
equipos de que se dispone son un Bruker D8-Advance con espejo
Göebel (muestras no planas) con cámara de alta temperatura
(hasta 900ºC), con un generador de rayos-x KRISTALLOFLEX K 760-80F
(Potencia: 3000W, Tensión: 20-60KV y Corriente: 5-80mA) y un
Seifert modelo JSO-DEBYEFLEX 2002 que está provisto de un
cátodo de cobre y un filtro de níquel. Desde el ordenador
se controlan las condiciones de medida obteniéndose así
el difractograma. Se dispone además de una base de datos JCPDS.
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Bruker
D8-Advance |
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| Seifert modelo
JSO-DEBYEFLEX 2002 |
EXPERIENCIA
DEL EQUIPO
PERSONAL
Alejandro
Jareño Bernal
Tel: 96590 9798
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