DIFRACCIÓN DE RAYOS X DE MONOCRISTAL
· Generalidades
· Aplicaciones
· Requisitos de las muestras
· Equipamiento
· Experiencia
· Personal
· Tarifas
· Impresos de recepción de muestras
· Localización
 
GENERALIDADES


La difracción de rayos X se produce por la interacción entre el haz de rayos X y los electrones del entorno ordenado de un cristal debido a que las distancias entre los centros de dispersión son del mismo orden de magnitud que la longitud de onda de la radiación. La cristalografía por difracción de rayos X consiste en medir las intensidades de los haces difractados por la muestra, un monocristal, mediante un detector adecuado y, a partir de estos reconstruir matemáticamente la distribución electrónica en la celdilla unidad, cuyos máximos corresponderán de forma aproximada a las posiciones atómicas.


APLICACIONES

La difracción de rayos X de monocristal puede proporcionar información detallada de la estructura tridimensional en estado sólido de muestras cristalinas de compuestos orgánicos, inorgánicos y organometalicos, consistiendo en la descripción geométrica en términos de distancias y ángulos de enlace, ángulos de torsión, ... También se puede obtener información sobre empaquetamientos, interacciones intermoleculares, ...

En el caso de cristales de buena calidad de compuestos ópticamente activos que tengan en la molécula un átomo pesado de Z>14, se podría determinar la estructura absoluta de los mismos.

 


REQUISITOS Y LIMITACIONES

Las muestras han de ser monocristales homogéneos de un tamaño aproximado de 0.1 a 0.2 mm. a lo largo de las tres dimensiones, de formas regulares, con caras brillantes y con los bordes bien definidos. Es necesario proporcionar información sobre la estabilidad del cristal puesto que las muestras sensibles a la luz, aire o humedad, o bien susceptibles de sufrir pérdidas de disolvente de cristalización, requieren un tratamiento especial.

DESCRIPCIÓN DEL EQUIPO


Equipo de difracción de rayos X para monocristales Bruker CCD-Apex provisto de tubo de rayos X con ánodo de Mo y equipo de baja temperatura KRYOFLEX. Programas para adquisición y tratamiento de datos SMART y SAINT.

Paquete de programas para la resolución de estructuras SHELXTL, que engloba los programas necesarios para la determinación del grupo espacial, correcciones de absorción, determinación inicial de la estructura por métodos directos o Patterson, refino de los datos estructurales, representación gráfica de los ficheros de resultados, generación de tablas de datos experimentales (posiciones atómicas, longitud de enlace, ángulos, parámetros de desplazamiento anisótropo) a partir de ficheros CIF y simulación y representación de modelos de polvo a partir de los datos de monocristal.


EQUIPAMIENTO COFINANCIADO POR LA UNIÓN EUROPEA A TRAVÉS DEL FONDO EUROPEO DE DESARROLLO REGIONAL (FEDER)



EXPERIENCIA DEL EQUIPO


PERSONAL

Dra.Tatiana Soler García
Dr.
Jerónimo Juan Juan

Tel: 96590 9952